X射线无损测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器,其探测器分辨率低为139eV,处于水平;产品采用上照式设计,多重防辐射保护装置以及X射线发生器,使辐射剂量符合国际规定;样品观察系统采用CCD、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的测厚分析软件,各项指标均符合相关技术要求,技术达水平。
X射线无损测厚仪在材料工业中的重要性:
1、高精度和准确性:仪器可以实现高精度的厚度测量,通常在微米级别。其准确性能够满足各个行业对于材料厚度的严格要求;
2、快速和企业电子商务网站:仪器使用简便、操作迅速,通常只需几秒钟至几分钟即可完成一次测量。这对于大批量生产和快速检测非常重要,提高工作效率;
3、非破坏性测试:无需对被测材料进行破坏性取样,避免材料的浪费和额外的成本。同时,它不会影响材料的特性和功能;
4、多功能性:仪器适用于不同类型的材料,包括金属、合金、塑料等。它还可以检测复杂结构中不同部位的厚度差异,如焊缝、角部等。
XRF2000镀层测厚仪主要应用于金属镀层银的测试,同时可以测试镀金、镀镍、镀锡、镀锌、镀铜、镀铑、镀钯、二元合金镀层等,整个过程全部通过电脑来操作,实现“傻瓜”式操作模式,简单的培训既可以进行操作,整个仪器测试基本没有耗材,降低后期的使用成本。
更多产品信息来源:http://www.sh-jcx.com/fan2009-Products-19388828/
https://www.chem17.com/st253946/product_19388828.html