X-RAY镀层测厚仪的工作原理

X-RAY镀层测厚仪是专门用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能Q大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。X-RAY镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的B要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有明确要求。

 

性能特点：

1、较好的射线屏蔽作用。

2、测试口高度敏感性传感器保护。

3、高分辨率探头使分析结果更加。

4、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。

5、φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。

6、采用高度定位激光，可自动定位测试高度。

 

工作原理：

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

 

更多产品信息来源：http://www.sh-jcx.com/fan2009-SonList-2001345/

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